高低溫衝(chōng)擊(jī)試驗箱用(yòng)來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材(cái)料，在(zài)瞬(shùn)間下經高溫(wēn)
，低(dī)溫的(dí)連續(xù)環境下所能(néng)忍(rěn)受的(dí)程度，適用(yòng)於科研
，學校
，工(gōng)廠(chǎng)
，軍(jūn)工(gōng)等單(dān)位用於電(diàn)工
，電(diàn)子產(chǎn)品
，半導體
，電(diàn)子綫路板
，金(jīn)屬(shǔ)材料
，軸(zhóu)承(chéng)等各(gè)種材(cái)料在溫(wēn)度急劇變化環境下的適應(yīng)性(xìng)試驗。高低溫衝(chōng)擊試(shì)驗箱由於工作方式(shì)的結(jié)構(gòu)不同，分為二(èr)箱式高(gāo)低(dī)溫衝(chōng)擊試(shì)驗(yàn)箱(xiāng)和三箱式(shì)高(gāo)低(dī)溫衝(chōng)擊試驗(yàn)箱(xiāng)。

    三(sān)箱式高低(dī)溫衝(chōng)擊試驗(yàn)箱主要(yào)用(yòng)於測試(shì)物不(bù)可(kě)移動，或帶(dài)載(zǎi)測試(shì)（通電或外(wài)加測量(liáng)傳(chuán)感(gǎn)器等(děng)），測試(shì)物件(jiàn)置放於工(gōng)作區(qū)，通過改變風(fēng)道方式，將預冷(lěng)室(shì)或預(yù)熱(rè)室(shì)的溫度(dù)帶入(rù)工(gōng)作(zuò)室，實現溫(wēn)度的(dí)快速衝(chōng)擊變(biàn)化(huà)；由於比二箱(xiāng)式(shì)衝(chōng)擊試驗(yàn)箱(xiāng)多(duō)增加了一(yī)個工(gōng)作(zuò)室(shì)區(qū)域的容(róng)積(jī)，在升降(jiàng)溫時(shí)，需(xū)對預(yù)冷(lěng)熱(rè)量的(dí)要求(qiú)要(yào)高，功(gōng)率(shuài)和(hé)蓄(xù)能(néng)裝置(zhì)配(pèi)置要大(dà)，成本(běn)相(xiāng)應增加。

    二箱式(shì)高低溫(wēn)衝擊試(shì)驗箱，顧(gù)名思(sī)義(yì)其隻有二個工作室(shì)，分(fēn)別(bié)為高(gāo)溫和(hé)低(dī)冷(lěng)，衝擊工作時，隻需(xū)通過(guò)吊欄(lán)將測(cè)試(shì)件移動(dòng)至相應的(dí)工(gōng)作室(shì)即可，能量損(sǔn)耗相對(duì)較少，與(yǔ)三(sān)箱(xiāng)式(shì)相比(bǐ)，配(pèi)置均(jūn)小(xiǎo)，成(chéng)本(běn)較低(dī)，故(gù)障率相對(duì)偏低。

杭州奧(ào)科(kē)環(huán)境試驗設備(bèi)有限(xiàn)公(gōng)司

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