為(wéi)了評(píng)價(jià)分(fēn)析電子產(chǎn)品可靠性(xìng)而進行的(dí)試(shì)驗稱為。試驗目(mù)的通常(cháng)有如(rú)下幾(jī)方(fāng)麵： 　　

1. 在研(yán)製階(jiē)段用以(yǐ)暴(bào)露(lòu)試製(zhì)產(chǎn)品各(gè)方麵的缺陷(xiàn)，評價產(chǎn)品(pǐn)可靠性達到(dào)預定指標(biāo)的情(qíng)況； 　　
2. 生(shēng)產(chǎn)階段為(wéi)監(jiān)控(kòng)生(shēng)產過(guò)程提供(gōng)信息(xī)； 　　
3. 對(duì)定型(xíng)產(chǎn)品進行可(kě)靠性鑒(jiàn)定或驗收； 　　
4. 暴(bào)露和分析(xī)產品(pǐn)在不同環境和應力(lì)條(tiáo)件下的失效(xiào)規律(lǜ)及有(yǒu)關的失效(xiào)模(mó)式(shì)和(hé)失效(xiào)機(jī)理； 　　
5. 為改進(jìn)產(chǎn)品(pǐn)可(kě)靠性，製(zhì)定(dìng)和(hé)改(gǎi)進可靠性(xìng)試驗(yàn)方案，為(wéi)用戶選用產(chǎn)品提(tí)供依據。 　　
對於不同的(dí)產品(pǐn)，為了達到不同的(dí)目(mù)的(dí)，可(kě)以選(xuǎn)擇不同的可靠性試驗方法。

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