高(gāo)低溫濕(shī)熱試驗(yàn)箱(xiāng)是在(zài)一(yī)個(gè)有(yǒu)效的(dí)空間(jiān)內(nèi)設(shè)定(dìng)相應的(dí)溫(wēn)濕度(dù)點，模擬外(wài)界自然(rán)高，低溫潮濕環境。主要應用(yòng)於測(cè)試和確定電子電工(gōng)，材料及(jí)其他(tā)產品(pǐn)在進行高(gāo)溫，低溫，或恒(héng)定濕熱(rè)試(shì)驗的溫度環(huán)境(jìng)變化(huà)後(hòu)的參數(shù)及(jí)性(xìng)能(néng)，即(jí)檢測產(chǎn)品是(shì)否(fǒu)耐(nài)高溫(wēn)，低溫或恒(héng)定濕熱的試驗(yàn)。
    高(gāo)低(dī)溫(wēn)濕熱(rè)試驗箱試驗(yàn)的(dí)嚴(yán)酷等級取決於試驗(yàn)持續(xù)時間(jiān)，溫(wēn)度(dù)，相對濕度共同(tóng)決定(dìng)。
    除非(fēi)相(xiāng)關規範規定(dìng)，試驗的溫(wēn)度(dù)，相對(duì)濕(shī)度應從下(xià)麵(miàn)的表格(gé)的(dí)組合(hé)中(zhōng)選(xuǎn)擇(zé)：
                              試驗(yàn)的(dí)溫度(dù)，相對濕(shī)度表

    持續時間(jiān)為：12h，16好，24好，和(hé)2d，4的(dí)，10的，21的，或56d。
    考(kǎo)慮(lǜ)到測試時的誤差，溫(wēn)度漸變以及工作(zuò)空間(jiān)呃(è)逆的(dí)溫(wēn)差，部(bù)分規定的溫度容(róng)差為(wéi)±2K。為了維持(chí)試驗(yàn)箱(xiāng)內(nèi)的相對濕度在規定的容(róng)差(chà)範(fàn)圍(wéi)內(nèi)，必須保(bǎo)持高(gāo)低溫濕熱(rè)試驗箱(xiāng)內的任意兩點(diǎn)在任(rèn)何(hé)時(shí)間內(nèi)其(qí)溫度差異(yì)盡可能的(dí)小。若溫(wēn)差超過(guò)1K，則(zé)不(bù)能達到所需(xū)的(dí)濕(shī)度條(tiáo)件。短(duǎn)期(qī)的溫(wēn)度波動度也(yě)必須(xū)保持(chí)在±0.5K範圍(wéi)內以維持(chí)所要求(qiú)的濕(shī)度(dù)條(tiáo)件。