溫度(dù)衝擊試驗(yàn)是(shì)指(zhǐ)在電子(zǐ)產(chǎn)品上施加(jiā)快速變化的(dí)溫度(dù)，用以(yǐ)暴露產品(pǐn)在(zài)低於(yú)溫度(dù)變化(huà)條件(jiàn)下(xià)會出現(xiàn)的(dí)潛(qián)在(zài)缺陷(xiàn)。在電(diàn)子產(chǎn)品的研(yán)製過(guò)程中，會(huì)因(yīn)各種原(yuán)因(yīn)導致缺(quē)陷(xiàn)的(dí)發生。溫(wēn)度衝擊(jī)試(shì)驗是(shì)針(zhēn)對(duì)電子(zǐ)產(chǎn)品(pǐn)在(zài)實際使用中(zhōng)可能(néng)遇(yù)到的溫(wēn)度環境及應力(lì)強(qiáng)度，選擇(zé)能激發其潛在缺陷(xiàn)的溫(wēn)度，用(yòng)以(yǐ)確定產品在經受(shòu)周(zhōu)圍大氣(qì)溫(wēn)度的急劇(jù)變化(溫度(dù)衝(chōng)擊)時(shí)，產(chǎn)品(pǐn)是(shì)否(fǒu)產(chǎn)生物(wù)理(lǐ)損(sǔn)壞或性能下降使(shǐ)潛在缺(quē)陷加速發(fā)展(zhǎn)成為早期(qī)故(gù)障，剔除(chú)元器件(jiàn)，部件的(dí)早期(qī)失效(xiào)及暴露設(shè)計和(hé)製(zhì)造工藝的不(bù)足，使(shǐ)產品的可靠(kào)性(xìng)更接(jiē)近實際需(xū)要，從(cóng)而(ér)保證和提(tí)高(gāo)電子(zǐ)產品的(dí)可靠(kào)性。